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　　超聲波物位計是一種常用物位儀表產(chǎn)品，是通用型物位計產(chǎn)品，是利用超聲波反射原理檢測常壓或低壓容器內(nèi)液體液位或固體料位的非接觸式物位測量儀表，具有狂干擾性強、可任意設置上下節(jié)點、在線輸出調(diào)節(jié)等優(yōu)點。適用于液體、漿料、淤泥、粉末和固體塊料的連續(xù)性、非接觸式物位測量，免維護，也可用于明渠和測量堰的流量測量。測量值不受介電常數(shù)、密度或濕度的影響，傳感器的自我清潔功能可消除介質(zhì)黏附對測量的影響。

　　超聲波物位計安裝于容器上部，在電子單元的控制下，探頭向被測物體發(fā)射一束超聲波脈沖。聲波被物體表面反射，部分反射回波由探頭接收并轉(zhuǎn)換為電信號。從超聲波發(fā)射到被重新被接收，其時間與探頭至被測物體的距離成正比。電子單元檢測該時間，并根據(jù)已知的聲速計算出被測距離。用探頭到罐底的距離－探頭到液位的距離＝實際液位或者物位高度。把液位高度轉(zhuǎn)換成4～20ma電流信號、1～5V電壓信號輸出。或者通過485通信，Hart通信，GPRS通信傳輸?shù)娇刂浦行摹Ｓ捎跍囟葘β曀倬哂休^大的影響，所以超聲波物位計應測量環(huán)境溫度，以修正聲速。

　　超聲波物位計的影響因素：

　　(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響

　　超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過60℃。

　　(2)攪拌器對儀器測量的影響

　　如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當降低攪拌器的轉(zhuǎn)速，或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對超聲波物位計測量的影響。